F. Agulló-Rueda
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Dielectrics
On the Effects of Stresses in Ferroelectric (Pb, Ca)TiO$_3$ Thin Films
Grazing angle X-ray diffraction, profilemetry, permittivity vs. temperature and Raman spectrometry measurements have been carried out …
J. Mendiola
,
M. L. Calzada
,
P. Ramos
,
M. J. Martín
,
F. Agulló-Rueda
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