📰 Publicaciones

(2018). Propiedades ópticas. J. M. Albella (Ed.), Capas delgadas y modificación superficial de materiales (Consejo Superior de Investigaciones Científicas, 2018), Ch. 14.

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(2018). Aplicaciones ópticas de láminas delgadas. J. M. Albella (Ed.), Capas delgadas y modificación superficial de materiales (Consejo Superior de Investigaciones Científicas, 2018), Ch. 25.

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(2008). Espectroscopía Raman. S. Prous, M. del Egido, and T. Calderón (eds.), La ciencia y el arte: Ciencias experimentales y conservación del Patrimonio Histórico (Instituto del Patrimonio Histórico, 2008).

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(2006). Fotónica y nanotecnología. Revista Española de Física 20(1), 12–19 (2006).

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(2003). Propiedades ópticas de capas delgadas. Aplicaciones. J. M. Albella (Ed.), Láminas delgadas y recubrimientos (CSIC, 2003), Ch. 24.

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(2003). Métodos ópticos. J. M. Albella (Ed.), Láminas delgadas y recubrimientos (CSIC, 2003), Ch. 14.

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(2003). Aplicaciones de capas semiconductoras en microelectrónica y fotónica. J. M. Albella (Ed.), Láminas delgadas y recubrimientos (CSIC, 2003), Ch. 23.

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(2000). Espectroscopía Raman. A. J. Vázquez and J. J. de Damborenea (Eds.), Ciencia e Ingeniería de la Superficie Metálica (CSIC, 2000), pp. 561–572.

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(2000). Depth-Resolved Microspectroscopy of Porous Silicon Multilayers. M. S. Ünlü, J. Piqueras, N. M. Kalkhoran, and T. Sekiguchi, Optical Microstructural Characterization of Semiconductors - 1999 (MRS, 2000), p. 155.

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(1999). Incorporation of vanadium in liquid phase epitaxy films of LiNbO$_3$. Proc. SPIE 3793, Operational Characteristics and Crystal Growth of Nonlinear Optical Materials, 222 (June 28, 1999).

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(1997). Selection rules in the Raman spectrum of porous silicon. in Advances in Microcrystalline and Nanocrystalline Semiconductors - 1996, R. W. Collins, P. M. Fauchet, I. Shimizu, J. C. Vial, T. Shimada, and A. P. Alivisatos, ed. (Materials Research Society, Pittsburgh, 1997).

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(1996). Semiconductores con Luz Propia. J. García Solé and F. Jaque Rechea, La Luz: El Ayer, el Hoy y el Mañana (Alianza Universidad, 1996).

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(1995). Wannier-Stark localization and Bloch oscillations. H. T. Grahn (ed.), Semiconductor superlattices. Growth and electronic properties (World Scientific, 1995).

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(1994). Lateral localization in strained InGaAs/GaAs quantum wells. in Formation of semiconductor interfaces, B. Lengerer, H. Lüth, W. Mönch, and J. Pollmann, J. (Eds.) (World Scientific, 1994), Vol. , Ch. , pp. 558–561.

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(1993). Espectroscopía Raman. J. M. Albella, A. M. Cintas, T. Miranda, and J. M. Serratosa (Eds.), Introducción a la Ciencia de Materiales (Publicaciones del CSIC, Madrid, 1993).

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(1992). El oscilador armónico: una herramienta de la Física actual. J. García Solé, and F. Jaque Rechea (Eds.), Temas Actuales de la Física (Publicaciones de la UAM, 1992).

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(1987). Spectroscopic Raman study of trifluoroperovskites of ammonium under high pressure. Heidemann A., Magerl A., Richter D., Prager M., Springer T. (eds), Quantum Aspects of Molecular Motions in Solids (Springer Proceedings in Physics, Springer, Berlin, Heidelberg), vol 17.

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